NOYAFA Electronicは、16年間、テスト機器とケーブルテスターを専門としています
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NOYAFA Electronicは、16年間、テスト機器とケーブルテスターを専門としています
著者：ノヤファ–CCTVテスター
ケーブル故障検出方法の評価長い間、多くの測定方法と機器が登場してきました。これらの方法と機器は、さまざまな障害状態に適しており、それぞれに長所と短所があります。ここでは、障害の場所を簡単に評価して比較し、修正します。 -ポイント楽器。 1.故障したケーブルの故障検出方法の評価長い間、多くの測定方法と機器が登場しました。これらの方法と機器は、さまざまな故障状況に適しており、それぞれに長所と短所があります。ここでは、故障の簡単な評価と評価を示します。場所と固定点計器。比較してください。 1.故障箇所の特定方法①。ブリッジ方式ブリッジ方式は、古典的なテスト方式です。
ab図1.5ブリッジ距離測定の原理ブリッジ方式のテスト回路の接続を図1.5aに示します。テスト対象のケーブル端子の故障フェーズと非フォールトフェーズが短絡され、ブリッジはそれぞれ故障フェーズと非故障フェーズに接続されています。等価回路図は1.5bに示されています。 R2の値を注意深く調整することにより、ブリッジは常にバランスを取ることができます。つまり、CD間の電位差は0であり、検流計に電流は流れません。このとき、ブリッジバランスの原理に従って、次の値を得ることができます。 R3 / R4 = R1 / R2（1.1）R1、R2は既知の抵抗であり、次のように設定します。R1 / R2 = K、次にR3 / R4 = KケーブルのDC抵抗は長さに比例するため、ケーブルの抵抗率導体はR0に設定され、Lの全長はケーブルの全長を表します。LX、、 L0はケーブルの障害点から測定端および端までの距離であり、R2は（L全長+L0）R0、式（1.1）に従って、次のように推定できます。L全長+ L0=KLXおよびL0=L全長-LX、したがって、LX = 2L全長/（K + 1）オープン-ケーブルの回路障害は容量性ブリッジで測定でき、原理は前述の抵抗ブリッジと同様です。ブリッジ法の利点は、シンプルで便利で正確なことですが、重要な欠点は、耐障害性が非常に高い場合、ブリッジの電流が非常に小さいため、高抵抗およびフラッシュオーバー障害には適していないことです。 、および機器の一般的な感度では、実際、ケーブル障害のほとんどは高抵抗およびフラッシュオーバー障害であるため、検出が困難です。
ブリッジ方式で故障距離を測定する前に、高電圧機器を使用してフォールトポイントを焼き切り、耐障害性の値をブリッジ方式で測定できる範囲まで下げる必要がありますが、フォールトを焼き切るポイントは非常に難しい作業であり、多くの場合、数時間または数日かかるため、非常に不便です。場合によっては、障害ポイントが燃え尽きて、代わりに障害抵抗が増加したり、障害抵抗が低すぎて永久的に短絡したりします。回路、放電音で測定できないように、最終点を作る方法。ブリッジ方式のもう1つの欠点は、ケーブルの正確な長さなど、元の技術データを知る必要があることです。ケーブルラインが異なる導体材料または異なる断面のケーブルで構成されている場合は、変換する必要があります。ブリッジ方式では、三相短絡や開回路故障は測定できません。フィールドブリッジ方式は現在ますます使用されていませんが、一部のテスター、特に古いテスターは、この方式の使用にまだ慣れています。
特に一部の特殊な故障では、明らかな低電圧パルス反射はありませんが、高電圧ブレークダウンを使用するのは簡単ではありません。耐障害性が高すぎない場合は、ブリッジ方式で問題を解決できることがよくあります。 ②。低電圧パルス反射法-切断、低抵抗、短絡障害に適しています。レーダー法とも呼ばれる低電圧パルス反射法は、第二次世界大戦のレーダーから発想を得て発明されました。障害点での反射パルスと送信パルスの差レンジング（詳細は第3章を参照）。低電圧パルス反射方式の利点は、シンプルで直感的であり、ケーブルの正確な長さなどの元の技術情報を必要としないことです。
ケーブルの接続点と分岐点の位置も、パルス反射波形から簡単に特定できます。低電圧パルス反射法の欠点は、高抵抗やフラッシュオーバー障害の測定にはまだ適していないことです。 ③。パルス電圧法-高抵抗およびフラッシュオーバー障害に適しています（廃止）パルス電圧法は、フラッシュテスト法とも呼ばれ、1960年代に開発された高抵抗およびフラッシュオーバー障害テスト方法です。
この原理に基づいてケーブル故障フラッシュテスターを製造および販売している国内企業がいくつかあります。まず、DC高電圧またはパルス高電圧信号の作用によりケーブル障害が破壊され、次に、観測点と障害点の間を行き来する放電電圧パルスの時間距離を観察することによって破壊されます。パルス電圧方式の重要な利点は、高抵抗やフラッシュオーバー障害を焼き切る必要がなく、障害の故障によって生成された瞬間的なパルス信号を直接使用できることです。テスト速度が速く、測定プロセスが簡素化されます。これは、ケーブル障害テスト技術の大きな進歩です。
パルス電圧法の欠点は次のとおりです。A。安全性が低いため、機器はコンデンサ抵抗分周器を介して電圧パルス信号を測定し、機器は高電圧回路と電気的に結合され、高電圧信号は次のようになります。簡単に直列に接続できるため、機器が損傷する可能性があります。 B.距離測定にフラッシュ測定法を使用する場合、高電圧コンデンサはパルス信号に対して短絡状態にあり、電圧信号を生成するために抵抗またはインダクタを接続する必要があるため、配線し、コンデンサが放電されたときに障害のあるケーブルに追加される電圧を低減します。電圧により、障害点が壊れにくくなります。 C.故障放電中、特にフラッシュオーバーテスト中、分圧器によって結合された電圧波形はシャープではなく、区別が困難です。
④。パルス電流法-高抵抗およびフラッシュオーバー障害に適していますパルス電流法は1980年代初頭に開発された試験方法であり、安全性、信頼性、および簡単な配線の利点を備えた強力な活力を示しています。パルス電流法（詳細は第4章を参照）とパルス電圧法の違いは、前者は線形電流カプラーを使用してケーブル障害の故障によって生成された電流パルス信号を測定し、コンデンサとケーブル間の直列抵抗とインダクタンスが排除され、配線が簡素化され、センサーから結合されたパルス電流波形が識別しやすくなります。 ⑤。アーク反射法（セカンドパルス法）-高抵抗およびフラッシュオーバー故障に適していますこれは現在最も進んだ故障位置特定法であり、テストの最初に使用する必要があります。
低電圧パルス波形の簡単な解析と高い試験精度に基づいて開発された新しい試験方法です。基本原理は、高電圧パルス発生器がケーブルに高電圧パルスを印加する前に、低電圧パルス信号がケーブルに注入され、このときの低電圧パルス波形（アークフリー波形と呼ばれる）です。 ）が記録されます。このとき、故障点は高抵抗であるため、低電圧パルスは故障点で反射がないか、ほとんど反射しません。
次に、高電圧パルス発生器を介してケーブルに高電圧パルスが印加され、故障が突破されてアーク放電が発生します。アーク抵抗が小さいため、元々高抵抗またはフラッシュオーバー障害がアーク中の低抵抗短絡障害になります。このとき、故障したケーブルにカップリング装置を介して低電圧パルス信号を注入し、このときの低電圧パルスの反射波形（アーク波形と呼びます）を記録し、低抵抗反射パルスを記録します。障害点ではっきりと見ることができます。
アークのない波形とアークのある波形を比較すると、2つの波形は障害点の位置が大きく異なり、波形の明らかな発散点とテスト端の間の距離が障害距離です。 ✧。測距方法と機器の選択に関する推奨事項現在、進行波測距方法が一般的に使用されています。短絡、低抵抗、開回路の故障は、ブリッジ法よりも簡単で直接的な低電圧パルス反射法を採用しています。高抵抗の測定には、アーク反射法またはパルス電流法が使用されます。両方ともパルス信号を介して障害ポイントで測定されます。ポイント間の1回の往復時間ですが、前者はケーブルに検出電圧パルスをアクティブに送信し、後者は瞬間パルス電流をパッシブに記録します。故障の故障によって生成された信号。信号の記録と処理は同じ回路で完了することができるので、機器が同時に2つの機能を実行できるので便利です。
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